HAST加速壽命試驗箱是一種用于加速壽命試驗的設備，通過提升溫度、電壓及負荷等環境與工作應力，縮短電子元器件、機械零件、半導體等產品的壽命測試周期。其主要用于分析產品失效原因、磨損規律及壽命故障分布，適用于IC半導體、連接器、光伏組件等領域。

1.HAST加速壽命試驗箱經過設計優化。

具備特制的試樣架，可免去繁雜的接線作業。

2.該設備對應IEC60068-2-66條件，具有直接測量箱內溫濕度的干、濕球溫度傳感器。

3.采用7寸真彩式觸摸屏，擁有250組12500段程序，具有USB曲線數據下載功能與RS-485通訊接口。

控制模式分為干濕球、不飽和、濕潤飽和等三種。

4.采用高效真空泵，使箱內達到純凈飽和蒸汽狀態。

內膽采用雙層圓弧設計，可以防止試驗結露滴水現象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊。

采用汽車級硅膠密封條。

5.具有緩降壓、排氣、排水功能，可控制試驗結束后壓力與溫度的變化，以保證試驗結果。

6.具備多項安全保護措施，可顯示故障報警及其原因和排除方法。

整機配備超壓、超溫、過流、漏電、短路、箱門關閉異常、水箱缺水報警斷電等多重安全保護裝置，并具備緊急泄壓、手動泄壓及反壓門鎖等功能。

7.該設備可定制專用產品架。